Sari la conţinutul principal
Nume de utilizator
Parolă
Conectare
Moodle Login Page
Tablou de bord
Pagini utile
Pagina facultății CIM
Orarul studiilor FCIM
Calendarul universitar
Planuri de învățămînt
Programe de licență
Programe de master
Română (ro)
English (en)
Français (fr)
Română (ro)
Русский (ru)
Caută cursuri
Trimite
Schița subiectului
General
Announcements
Forum
Announcements
Forum
Tofim V. Curs BTM volumul II
Fișier
Жаркой М. Ф. ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ПРОИЗВОДСТВА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ
Legătură
Данилина Т.И., Кагадей В.А., Анищенко Е.В., Технология кремниевой наноэлектроники, 2011
Legătură
Наумченко А. С. Технология микросхем с проектными нормами 90 нм и менее
Legătură
Младенов Г.М. Наноэлектроника. Книга 1: введение в наноэлектронные технологии
Legătură
ТЕХНОЛОГИЯ ИНТЕГРАЛЬНОЙ ЭЛЕКТРОНИКИ
Legătură
ТЕХНОЛОГИЯ СБОРКИ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ
Legătură
Mикротехнология
Fișier
Быстрые термообработки в техологии сбис
Legătură
IC Manufacturing
Fișier
Fisa TVLSI
Fișier
Curricula TVLSI
Fișier
REGISTRU ELECTRONIC
T1. Evoluţia circuitelor integrate. Nivelul mondial de dezvoltare tehnologică. Particularităţile operaţiilor tehnologice de producere a circuitelor VLSI.
T2. Tehnologia clasică a circuitelor integrate nMOS, pMOS, CMOS, BiMOS, TEC-f-MOS.
T3. Bazele fizice a vaporizării termice în vid
T4. Epitaxia din fascicul molecular a Si și compușilor AIIIBV.
T5. Procese fizice în plasmă. Depunerea peliculelor în siste diodice, triodice. Pulverizarea reactivă. Pulverizarea cu magnetron. Corodarea uscată în plasma de argon și corodarea în plasma reactivă. Depunerea în plasmă a peliculelor dielectrice (SiO2, Si3
T6. Depunerea polisiliciului
T7. Operațiile litografice în tehnologia VLSI. Litografia cu fascicul electronic, rezoluția. Metodele de aliniere. Litografia cu raze X. Efectele de semiumbră și geometrice. Litografia cu fascicol de ioni.
T8. Implantarea ionică. Construcția instalației, principiul de funcționare. Distribuirea ionilor implantați pe adâncime.
T9. Depunerea polisiliciului. Influența diferitor factori la viteza de depunere.
T10. Metode de izolare a tranzistorilor MOS în circuite VLSI
T11. Tratamentul fotonic rapid
T12. Metalizarea multistrat în Tehnologia VLSI
T13. Perspectivele de dezvoltare a tehnologiei VLSI
Evaluare nr.1
Bilete
Fișier
Restricționat!
Disponibil de la
23 March 2026, 13:15
Repartizarea biletelor
Fișier
Restricționat!
Disponibil de la
23 March 2026, 13:15
Încarcă răspunsul aici
Sarcină de lucru
Lucrări de laborator
Tehnologia C.I.H și V.L.S.I
Fișier
Lucrare de laborator nr.7
Fișier
Încarcă răspunsul aici pentru lucrările de laborator
Sarcină de lucru
Materiale pentru lucrari de laborator si proiect de an
Dosar
Chestionar 2022
Chestionar
Fișier
Înapoi