Evaluarea 1
12-24 Octombrie
1.
Structura cristalină a corpului solid.
2.
Reprezentarea analitică a cristalelor.
Indicii cristalografici.
3.
Reţele Bravais.
4.
Reţeaua reciprocă. Celula Wigner – Seitz.
Zona Brillouin.
5.
Bazele difracţiei radiaţiei Roentgen pe
cristale.
6.
Radiaţia X în studiul cristalelor.
Interacţiunea radiaţiei Roentgen cu substanţa.
7.
Difracţia radiaţiei Roentgen pe cristale.
Ecuaţia generală de interferenţă a lui Laue.
8.
Interpretarea difracţiei ca reflexie.
Formula Bragg – Wolf.
9.
Împrăştierea radiaţiei Roentgen de un
electron.
10.
Metode de difracţie de raze X.
11.
Împrăştierea radiaţiei X de către o celulă
elementară. Amplitudine de structură. Determinarea structurii atomice a materialelor
cristaline.
12.
Metoda Laue. Metoda monocristalului
rotitor. Metoda Debye – Sherrer. Aplicaţiile metodei.
13.
Metoda neutronografică. Bazele fizice ale microscopiei
M.N. Particularităţile M.N. de A.S. Aplicaţii.
14.
Zona Brillouin. Modelul electronilor
liberi.
15.
Benzile energetice în cristale.
16.
Gazul Fermi de electroni liberi.
17.
Ecuaţia lui Scrödinger.
18.
Nivelele energetice în cazul
unidimensional.
19.
Funcţia de distribuţie Fermi – Dirac.
20.
Ecuaţia Scrödinger pentru cristale.
21.
Corpuri solide. Conductoare.
Semiconductoare. Izolatoare.
22.
Statistica electornilor şi a golurilor în
semiconductoare. Goluri. Noţiuni de bază.
23.
Semiconductoare intrinseci şi extrinseci.
24.
Concentraţia purtătorilor de sarcină
intrinseci.
25.
Poziţia nivelului Fermi în semiconductorii
intrinseci şi extrinseci.
26.
Semiconductor extrinsec.
